SWT-9000F膜厚計
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- SWT-9000F膜厚計
- SANKO山高
- SWT-9000F
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產品詳細介紹
SWT-9000F膜厚計
●測量范圍是0 ~ 2.5毫米
●零標準調整就可以測量
用途：
●涂裝/襯里/鍍金
●涂裝一般
參數：
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測量范圍 |
0 ~ 2.50毫米 |
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表示分辨率 |
1μm：0～999μm 切換0.1μm：0 ~ 400μm 0.5μm：400～500μm 0.01毫米：1.00?2.50毫米 |
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測量精度 |
均勻方面對 0 ~ 100μm：±1μm或指示值的±2 % 101μm?2.50毫米：±2%以內 |
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表示方式 |
CD數碼表示 |
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內存 |
標準曲線×1 |
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探針 |
一點恒壓接觸式，V切割付，φ13毫米×48 |
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電源 |
單3電池（1.5 V）×2自動パワーオフ |
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使用溫度 |
0 ~ 40℃（不得結露） |
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尺寸重量 |
72（W）×30（H）×156（D）毫米，約270克 |
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附件 |
標準厚板，考試用零板、收納盒 |